7*24小时服务热线:
010-81516609 18561159039 13810039648 18911972605
1)主要技术参数:
²中心波长精度:优于±1nm;
²峰值波长精度:优于±1nm;
²光谱带宽测量精度:优于±0.5nm;
²相对光谱响应度测量精度:优于±2%;
²非均匀性标定误差:优于±1%;
²像素不均匀性测量精度:1%;
2)应用领域:
²线/面阵/TDI CCD以及CMOS等阵列光电探测器的光谱/辐射响应性能测试和标定。
3)成功应用案例:
²中科院新疆某研究所
²航天某院某研究所
²西北某大学
4)产品实物图片:
↑↑ 航天某院某所敏感器大面阵CCD关键参数测量系统实物图片
↑↑ 中科院新疆某研究所CCD光电参数测试设备实物图片
↑↑ 红外探测器光谱响应测试系统原理/结构图
↑↑ 红外探测器光谱响应测试系统实物图片